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文檔簡介
1、隨著半導體照明技術的不斷發(fā)展,半導體照明產(chǎn)品逐漸被廣泛地應用于越來越多的照明領域,使得半導體照明日益受到全球的普遍關注。因LED具有高效、節(jié)能、環(huán)保、壽命長等等一系列優(yōu)點,被稱為繼白熾燈之后的第四代照明光源。但熱問題是制約其進入照明領域的主要因素之一。因此,如何測試半導體照明產(chǎn)品在應用的散熱問題是未來半導體照明技術的關鍵所在,亟待解決。
首先,本課題是從半導體照明產(chǎn)品的熱特性入手,對其熱特性測試方法做了深入的調(diào)研工作,詳細論述
2、了本課題的研究目的與意義以及未來的發(fā)展趨勢,以及其熱特性測試技術的研究現(xiàn)狀。對其影響熱特性的主要參數(shù)結溫和熱阻進行了理論闡述。進而論述了目前測試熱特性分析技術的方法,根據(jù)對結溫基本理論的研究,提出了一種測試結溫技術的新方法。為分析半導體照明產(chǎn)品的熱特性提供了理論支持。
其次,從三個方面對結溫的影響因素進行了分析,分別是結溫對光通量、結溫對正向電壓、結溫對使用壽命的影響。接著總結了應用半導體照明產(chǎn)品熱量傳遞的三種方式以及散熱結構
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