面向裝配序列規(guī)劃的遺傳模擬退火算法研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、裝配序列規(guī)劃在產(chǎn)品開發(fā)中占有十分重要的地位,是決定產(chǎn)品裝配質(zhì)量和裝配成本的重要因素.近年來,眾多學(xué)者在這一領(lǐng)域開展了富有成效的研究和探索.該文針對現(xiàn)有裝配序列規(guī)劃方法的局限性,特別是基于智能計算的遺傳算法和模擬退火算法求解裝配序列規(guī)劃問題的不足之處,提出構(gòu)造遺傳模擬退火算法進(jìn)行裝配序列規(guī)劃.首先,總結(jié)了國內(nèi)外有關(guān)裝配序列規(guī)劃研究成果和遺傳模擬退火算法在其它優(yōu)化問題領(lǐng)域的應(yīng)用情況.其次,提出將遺傳算法和模擬退火算法有機(jī)地結(jié)合,取長補(bǔ)短,構(gòu)

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